石油科技论坛 ›› 2009, Vol. 28 ›› Issue (2): 71-71.

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微电阻率扫描成像测井仪

  • 出版日期:2009-04-25 发布日期:2015-12-10

Micro Conductivity Imaging Logging Tool

  • Online:2009-04-25 Published:2015-12-10

摘要: 20世纪90年代,斯仑贝谢、贝克阿特拉斯、哈里伯顿等国外三大公司分别推出了以微电阻率扫描成像测井仪为代表的成像测井系统。微电阻率扫描成像测井仪能够提供井眼地层高分辨率、大动态范围微电阻率成像,应用在裂缝识别及评价、薄层评价、岩性划分、沉积相分析、构造分析和地层各向异性评价中,在重点探区及复杂地层的勘探开发中发挥了重要作用,作业工作量也不断增加,市场需求迫切。